Тестер LCR транзисторов и конденсаторов FNIRSI LCR-P1
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
ХАРАКТЕРИСТИКИ
ОПИСАНИЕ
FNIRSI LCR-P1 — это многофункциональный тестер, предназначенный для измерения параметров различных электронных компонентов, включая LCR-элементы (индуктивность, емкость, сопротивление), транзисторы и диоды. Устройство разработано для использования в сфере электроники, ремонта и отладки, обеспечивая точные измерения и идентификацию компонентов.
Прибор оснащен 1,44-дюймовым цветным дисплеем для отображения результатов измерений. Встроенный литиевый аккумулятор емкостью 300 мАч обеспечивает автономную работу, а зарядка осуществляется через порт USB Type-C. Тестер поддерживает автоматическое определение контактов и характеристик компонентов, что упрощает процесс диагностики. Диапазон измерения емкости составляет от 25 пФ до 100 мФ, индуктивности — от 10 до 1000 мкГн, а сопротивления — от 0,01 Ом до 50 МОм.
FNIRSI LCR-P1 подходит для инженеров-электронщиков, радиолюбителей, специалистов по ремонту бытовой техники и всех, кто работает с электронными схемами. Он позволяет быстро проверять работоспособность и параметры транзисторов (биполярных, полевых JFET, IGBT, MOSFET), диодов (включая стабилитроны), а также осуществлять ИК-декодирование протокола NEC для анализа пультов дистанционного управления. Функция защиты от возгорания автоматически разряжает конденсаторы, предотвращая повреждение прибора или тестируемого компонента.
В комплект поставки входит сам тестер FNIRSI LCR-P1. Устройство поддерживает обновление программного обеспечения, что позволяет расширять его функционал и улучшать точность измерений. Рабочая температура прибора находится в диапазоне от 0 до 40 °C.
• Универсальное измерение параметров транзисторов, конденсаторов, резисторов, катушек индуктивности, диодов, полевых МОП-транзисторов и аккумуляторов;
• Цветной экран диагональю 1,44 дюйма;
• Встроенный аккумулятор емкостью 300 мАч;
• Порт Type-C для зарядки и передачи данных;
• Защита от возгорания с автоматической разрядкой конденсаторов;
• Анализ инфракрасного протокола NEC;
• Автоматическое определение контактов, параметров и характеристик компонентов.
